SylabUZ

Wygeneruj PDF dla tej strony

Diagnostyka systemów cyfrowych - opis przedmiotu

Informacje ogólne
Nazwa przedmiotu Diagnostyka systemów cyfrowych
Kod przedmiotu 06.0-WE-INFP-DSC
Wydział Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki
Kierunek Informatyka
Profil ogólnoakademicki
Rodzaj studiów pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
Semestr rozpoczęcia semestr zimowy 2021/2022
Informacje o przedmiocie
Semestr 6
Liczba punktów ECTS do zdobycia 5
Typ przedmiotu obieralny
Język nauczania polski
Sylabus opracował
  • dr inż. Michał Doligalski
Formy zajęć
Forma zajęć Liczba godzin w semestrze (stacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (stacjonarne) Liczba godzin w semestrze (niestacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (niestacjonarne) Forma zaliczenia
Wykład 15 1 9 0,6 Zaliczenie na ocenę
Laboratorium 30 2 18 1,2 Zaliczenie na ocenę
Projekt 15 1 9 0,6 Zaliczenie na ocenę

Cel przedmiotu

  • zapoznanie studentów z narzędziami i technikami weryfikacji funkcjonowania systemów cyfrowych
  • ukształtowanie zrozumienia konieczności zapewnienia jak najwyższej jakości systemów cyfrowych
  • ukształtowanie umiejętności projektowania i weryfikacji systemów cyfrowych, w szczególności wykorzystania oraz narzędzi pomiarowych na etapie weryfikacji układowej

Wymagania wstępne

Układy cyfrowe, Języki modelowania systemów cyfrowych

Zakres tematyczny

Budowa i działanie narzędzi diagnostycznych: zapoznanie się z budową, zasadami działania oraz wykonywania pomiarów cyfrową aparaturą diagnostyczną obejmującą oscyloskopy cyfrowe, analizatory stanów logicznych, generatory arbitralne. Wykorzystanie oscyloskopu i generatora arbitralnego do generowania przebiegów cyfrowych i analogowych na podstawie przebiegów zarejestrowanych za pomocą oscyloskopu. Interfejsy aparatury pomiarowej (RS-232, RS-485, GPIB, USB). Badanie wybranych parametrów układów cyfrowych: Wykorzystanie oscyloskopu cyfrowego do pomiarów parametrów czasowych układów cyfrowych (TTL, CMOS, FPGA) obejmujących: czas propagacji, czas narastania, czas opadania, czas podtrzymania. Parametry elektryczne w tym: prądowe, napięciowe. Margines zakłóceń i odporność na zakłócenia. Warunki graniczne pracy układów cyfrowych. Diagnostyka sprzętowo - programowych systemów cyfrowych: Weryfikacja sygnałów na wyjściach układów cyfrowych z wykorzystaniem oscyloskopu cyfrowego. Analizator stanów logicznych w analizie systemów cyfrowych. Algorytmy wyzwalania w oparciu o zmiany bądź wartości sygnałów. Wykorzystanie wyników symulacji na etapie weryfikacji prototypu. Oprogramowanie diagnostyczne: Wykorzystanie specjalizowanego oprogramowania w procesie diagnostyki systemów cyfrowych (FPGAView, ChipScope Pro). Interfejs JTAG w analizie systemów cyfrowych. Wykorzystanie oprogramowania specjalistycznego oraz oscyloskopu cyfrowego i/lub analizatora stanów logicznych. Osadzanie modułów testowych wewnątrz systemów wbudowanych (ChipScope Pro). Wykorzystanie generatora sygnałów oraz oscyloskopu cyfrowego w badaniu systemów cyfrowych. Diagnostyka systemów cyfrowych realizowanych z wykorzystaniem komputerów typu SBC (ang. Single Board Computer)

Metody kształcenia

wykład: wykład konwencjonalny

laboratorium: ćwiczenia laboratoryjne

projekt: metoda projektu

Efekty uczenia się i metody weryfikacji osiągania efektów uczenia się

Opis efektu Symbole efektów Metody weryfikacji Forma zajęć

Warunki zaliczenia

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego realizowanego w formie pisemnej. Warunkiem przystąpienia do kolokwium jest pozytywna ocena z laboratorium.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium (80%) oraz aktywności na zajęciach (20%).

Projekt - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z projektu Składowe oceny końcowej = wykład: 40% + laboratorium: 30% + projekt: 30%

Literatura podstawowa

  1. Pieńkos J., Turczyński J.: Układy scalone TTL w systemach cyfrowych. WKiŁ, Warszawa, 1986.
  2. Łuba T., Programowalne układy przetwarzania sygnałów i informacji. WKiŁ 2008.
  3. Kamieniecki A, Współczesny oscyloskop budowa i pomiary. BTC, Legionowo, 2009.
  4. Tumański S., Technika pomiarowa, WNT, 2007.

Literatura uzupełniająca

  1. Rydzewski J., Pomiary oscyloskopowe. WNT, 2007.
  2. Lyons R. G., Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów, WKiŁ, Warszawa, 2006.
  3. Wiszniewski B., Bereza-Jarociński B.: Teoria i praktyka testowania programów. Wydawnictwo PWN, 2006.

Uwagi


Zmodyfikowane przez prof. dr hab. inż. Andrzej Obuchowicz (ostatnia modyfikacja: 20-04-2021 08:55)