SylabUZ

Wygeneruj PDF dla tej strony

Testowanie systemów informatycznych - opis przedmiotu

Informacje ogólne
Nazwa przedmiotu Testowanie systemów informatycznych
Kod przedmiotu 06.0-WI-INFP-TSI
Wydział Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki
Kierunek Informatyka
Profil ogólnoakademicki
Rodzaj studiów pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
Semestr rozpoczęcia semestr zimowy 2017/2018
Informacje o przedmiocie
Semestr 6
Liczba punktów ECTS do zdobycia 5
Typ przedmiotu obieralny
Język nauczania polski
Sylabus opracował
  • dr inż. Michał Doligalski
Formy zajęć
Forma zajęć Liczba godzin w semestrze (stacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (stacjonarne) Liczba godzin w semestrze (niestacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (niestacjonarne) Forma zaliczenia
Wykład 15 1 9 0,6 Zaliczenie na ocenę
Laboratorium 30 2 18 1,2 Zaliczenie na ocenę
Projekt 15 1 9 0,6 Zaliczenie na ocenę

Cel przedmiotu

  • zapoznanie studentów z cyklem życia systemu informatycznego ze szczególnym uwzględnieniem narzędzi i technik weryfikacji
  • ukształtowanie zrozumienia konieczności zapewnienia jak najwyższej jakości i niezawodności systemów informatycznych
  • ukształtowanie umiejętności projektowania i weryfikacji systemów informatycznych, a w szczególności wykorzystania narzędzi do automatyzacji testów i weryfikacji układowej części sprzętowej

 

Wymagania wstępne

Układy cyfrowe

Zakres tematyczny

Podstawowe zasady testowania programów, miejsce testów w procesie inżynierii komputerowej i inżynierii oprogramowania. Inspekcja kodu źródłowego i opracowanie przypadków testowych. Testowanie pojedynczych modułów aplikacji, testy integracyjne. Testowanie funkcjonalne, systemowe, akceptacyjne i instalacyjne. Testowanie ekstremalne. Testowanie aplikacji internetowych. Budowa i działanie narzędzi diagnostycznych: zapoznanie się z budową, zasadami działania oraz wykonywania pomiarów cyfrową aparaturą diagnostyczną. Wykorzystanie oscyloskopu i generatora arbitralnego do generowania przebiegów cyfrowych i analogowych na podstawie przebiegów zarejestrowanych za pomocą oscyloskopu. Interfejsy aparatury pomiarowej (RS-232, RS-485, GPIB, USB). Teoretyczne podstawy przeprowadzania testów zgodności (compliance), automatyzacja testów. Badanie wybranych parametrów układów cyfrowych: Wykorzystanie oscyloskopu cyfrowego do pomiarów parametrów czasowych układów cyfrowych (TTL, CMOS, FPGA) obejmujących parametry czasowe i częstotliwościowe. Parametry elektryczne w tym: prądowe, napięciowe. Warunki graniczne pracy układów cyfrowych. Diagnostyka sprzętowo – programowych systemów mikroinformatycznych: Analizator stanów logicznych w analizie systemów cyfrowych. Opracowywanie algorytmów wyzwalania w oparciu o zmiany bądź wartości sygnałów. Wykorzystanie wyników symulacji na etapie weryfikacji prototypu. Rozszerzenie mikrosystemu cyfrowego o blok generatora na potrzeby testów. Analiza transmisji danych (I2C, SPI, RS-232, CAN) magistral szeregowych z wykorzystaniem oscyloskopu. Analiza transmisji w sieciach komputerowych. Oprogramowanie diagnostyczne: Wykorzystanie specjalizowanego oprogramowania w procesie diagnostyki systemów cyfrowych (FPGAView, ChipScope Pro). Interfejs JTAG w analizie systemów cyfrowych. Wykorzystanie oprogramowania FPGAView oraz oscyloskopu cyfrowego i/lub analizatora stanów logicznych. Osadzanie modułów testowych wewnątrz systemów wbudowanych (ChipScope Pro).

Metody kształcenia

wykład: wykład konwencjonalny

laboratorium: ćwiczenia laboratoryjne

projekt: metoda projektu

Efekty uczenia się i metody weryfikacji osiągania efektów uczenia się

Opis efektu Symbole efektów Metody weryfikacji Forma zajęć

Warunki zaliczenia

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego realizowanego w formie pisemnej. Warunkiem przystąpienia do kolokwium jest pozytywna ocena z laboratorium.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium (80%) oraz aktywności na zajęciach (20%).

Projekt - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z projektu Składowe oceny końcowej = wykład: 40% + laboratorium: 30% + projekt: 30%

Literatura podstawowa

  1. Wiszniewski B., Bereza-Jarociński B.: Teoria i praktyka testowania programów. Wydawnictwo PWN, 2006.

  2. Pieńkos J., Turczyński J.: Układy scalone TTL w systemach cyfrowych. WKiŁ, Warszawa, 1986.

  3. Łuba T., Programowalne układy przetwarzania sygnałów i informacji. WKiŁ 2008.

  4. Kamieniecki A, Współczesny oscyloskop budowa i pomiary. BTC, Legionowo, 2009.

  5. Myers G. J., Sandler C., Badgett T., Thomas T. M: Sztuka testowania oprogramowania, Helion, 2005

Literatura uzupełniająca

  1. Rydzewski J., Pomiary oscyloskopowe. WNT, 2007.

  2. Lyons R. G., Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów, WKiŁ, Warszawa, 2006.

  3. Tumański S., Technika pomiarowa, WNT, 2007

Uwagi


Zmodyfikowane przez prof. dr hab. inż. Andrzej Obuchowicz (ostatnia modyfikacja: 19-04-2017 11:37)