SylabUZ
Nazwa przedmiotu | Testowanie systemów informatycznych |
Kod przedmiotu | 06.0-WI-INFP-TSI |
Wydział | Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki |
Kierunek | Informatyka |
Profil | ogólnoakademicki |
Rodzaj studiów | pierwszego stopnia z tyt. inżyniera |
Semestr rozpoczęcia | semestr zimowy 2017/2018 |
Semestr | 6 |
Liczba punktów ECTS do zdobycia | 5 |
Typ przedmiotu | obieralny |
Język nauczania | polski |
Sylabus opracował |
|
Forma zajęć | Liczba godzin w semestrze (stacjonarne) | Liczba godzin w tygodniu (stacjonarne) | Liczba godzin w semestrze (niestacjonarne) | Liczba godzin w tygodniu (niestacjonarne) | Forma zaliczenia |
Wykład | 15 | 1 | 9 | 0,6 | Zaliczenie na ocenę |
Laboratorium | 30 | 2 | 18 | 1,2 | Zaliczenie na ocenę |
Projekt | 15 | 1 | 9 | 0,6 | Zaliczenie na ocenę |
Układy cyfrowe
Podstawowe zasady testowania programów, miejsce testów w procesie inżynierii komputerowej i inżynierii oprogramowania. Inspekcja kodu źródłowego i opracowanie przypadków testowych. Testowanie pojedynczych modułów aplikacji, testy integracyjne. Testowanie funkcjonalne, systemowe, akceptacyjne i instalacyjne. Testowanie ekstremalne. Testowanie aplikacji internetowych. Budowa i działanie narzędzi diagnostycznych: zapoznanie się z budową, zasadami działania oraz wykonywania pomiarów cyfrową aparaturą diagnostyczną. Wykorzystanie oscyloskopu i generatora arbitralnego do generowania przebiegów cyfrowych i analogowych na podstawie przebiegów zarejestrowanych za pomocą oscyloskopu. Interfejsy aparatury pomiarowej (RS-232, RS-485, GPIB, USB). Teoretyczne podstawy przeprowadzania testów zgodności (compliance), automatyzacja testów. Badanie wybranych parametrów układów cyfrowych: Wykorzystanie oscyloskopu cyfrowego do pomiarów parametrów czasowych układów cyfrowych (TTL, CMOS, FPGA) obejmujących parametry czasowe i częstotliwościowe. Parametry elektryczne w tym: prądowe, napięciowe. Warunki graniczne pracy układów cyfrowych. Diagnostyka sprzętowo – programowych systemów mikroinformatycznych: Analizator stanów logicznych w analizie systemów cyfrowych. Opracowywanie algorytmów wyzwalania w oparciu o zmiany bądź wartości sygnałów. Wykorzystanie wyników symulacji na etapie weryfikacji prototypu. Rozszerzenie mikrosystemu cyfrowego o blok generatora na potrzeby testów. Analiza transmisji danych (I2C, SPI, RS-232, CAN) magistral szeregowych z wykorzystaniem oscyloskopu. Analiza transmisji w sieciach komputerowych. Oprogramowanie diagnostyczne: Wykorzystanie specjalizowanego oprogramowania w procesie diagnostyki systemów cyfrowych (FPGAView, ChipScope Pro). Interfejs JTAG w analizie systemów cyfrowych. Wykorzystanie oprogramowania FPGAView oraz oscyloskopu cyfrowego i/lub analizatora stanów logicznych. Osadzanie modułów testowych wewnątrz systemów wbudowanych (ChipScope Pro).
wykład: wykład konwencjonalny
laboratorium: ćwiczenia laboratoryjne
projekt: metoda projektu
Opis efektu | Symbole efektów | Metody weryfikacji | Forma zajęć |
Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego realizowanego w formie pisemnej. Warunkiem przystąpienia do kolokwium jest pozytywna ocena z laboratorium.
Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium (80%) oraz aktywności na zajęciach (20%).
Projekt - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z projektu Składowe oceny końcowej = wykład: 40% + laboratorium: 30% + projekt: 30%
Wiszniewski B., Bereza-Jarociński B.: Teoria i praktyka testowania programów. Wydawnictwo PWN, 2006.
Pieńkos J., Turczyński J.: Układy scalone TTL w systemach cyfrowych. WKiŁ, Warszawa, 1986.
Łuba T., Programowalne układy przetwarzania sygnałów i informacji. WKiŁ 2008.
Kamieniecki A, Współczesny oscyloskop budowa i pomiary. BTC, Legionowo, 2009.
Myers G. J., Sandler C., Badgett T., Thomas T. M: Sztuka testowania oprogramowania, Helion, 2005
Rydzewski J., Pomiary oscyloskopowe. WNT, 2007.
Lyons R. G., Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów, WKiŁ, Warszawa, 2006.
Tumański S., Technika pomiarowa, WNT, 2007
Zmodyfikowane przez prof. dr hab. inż. Andrzej Obuchowicz (ostatnia modyfikacja: 19-04-2017 11:37)