1. SylabUZ
2. Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki
3. semestr zimowy 2018/2019
4. Elektrotechnika - pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
5. Metrologia

Wygeneruj PDF dla tej strony

Metrologia - opis przedmiotu

Cel przedmiotu

• zapoznanie studentów z metodami pomiarowymi oraz budową, zasadą działania analogowych i cyfrowych przyrządów do pomiarów wybranych wielkości elektrycznych
• ukształtowanie wśród studentów umiejętności w zakresie wykonywania prostych zadań pomiarowych oraz opracowywania i interpretacji wyników pomiarów
• zapoznanie z klasyfikacją, budową i właściwościami systemów pomiarowych

Wymagania wstępne

Zapisz zmiany

Podstawy elektrotechniki, Podstawy elektroniki, Podstawy metrologii

Zakres tematyczny

Analogowe, analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe przetwarzanie sygnałów pomiarowych. Zasada działania i właściwości metrologiczne podstawowych analogowych operatorów funkcyjnych. Próbkowanie i kwantowanie. Przetworniki próbkująco-pamiętające, analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe.

Pomiary napięć i prądów. Pomiary metodą wychyleniową: woltomierze elektroniczne i woltomierze cyfrowe. Pomiary metodami zerowymi: Kompensacyjny pomiar napięcia i prądu. Metody komparacyjne.

Metody i układy do pomiaru rezystancji i impedancji. Metody techniczne. Metody mostkowe stało- i przemiennoprądowe. Mostki transformatorowe. Mostki niezrównoważone.

Pomiary częstotliwości, okresu, czasu i kąta przesunięcia fazowego. Metody analogowe i cyfrowe pomiaru i okresu i częstotliwości. Cyfrowe częstościomierze - czasomierze i fazomierze.

Pomiary mocy i energii prądu stałegoi prądu przemiennego w układach jedno- i trójfazowych. Zasada pomiaru mocy i energii. Watomierz elektrodynamiczny. Przekładnik napięcia i prądu. Elektroniczne przyrządy do pomiaru mocy. Pomiar mocy czynnej i biernejw układach trójfazowych. Elektroniczneliczniki energii elektrycznej.

Rejestracja sygnałów elektrycznych. Oscyloskop analogowy i cyfrowy. Rejestratory sygnałów pomiarowych.

Badania materiałów elektrotechnicznych, półprzewodników i dielektryków. Pomiary właściwości materiałów magnetycznych.

Komputerowe systemy pomiarowe. Ogólna charakterystyka systemów pomiarowych. Rodzaje i konfiguracje komputerowych systemów pomiarowych. Podstawowe bloki funkcjonalne komputerowych systemów pomiarowych: karty pomiarowe, inteligentne czujniki. Interfejsy.

Metody kształcenia

wykład: wykład konwencjonalny, wykład problemowy, dyskusja

laboratorium: praca z dokumentem źródłowym, praca w grupach, ćwiczenia laboratoryjne

Efekty uczenia się i metody weryfikacji osiągania efektów uczenia się

Opis efektu	Symbole efektów	Metody weryfikacji	Forma zajęć

Warunki zaliczenia

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen z egzaminu prowadzone go w formie pisemnej.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium.

Składowe oceny końcowej = wykład: 50% + laboratorium: 50%

Literatura podstawowa

1. Chwaleba A, Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa, 2009
2. Furmankiewicz L. (red.): Laboratorium metrologii elektrycznej cz.III, Wyd. Politechniki Zielonogórskiej, Zielona Góra, 2000
3. Marcyniuk A., Pasecki E., Pluciński M., Szadkowski B.: Podstawy metrologii elektrycznej. WNT, Warszawa, 1984
4. Piotrowski J.: Podstawy miernictwa. WNT, Warszawa, 2002
5. Rybski R. (red.): Laboratorium metrologii elektrycznej cz.II, Wyd. Politechniki Zielonogórskiej, Zielona Góra, 2000
6. Stabrowski M.: Cyfrowe przyrządy pomiarowe, PWN, Warszawa, 2002
7. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007.

Literatura uzupełniająca

1. Sydenham P. H. (red.): Podręcznik metrologii, tom 1 i 2. WKiŁ, Warszawa, 1988 (t.1), 1990 (t.2)

.

Uwagi

Zmodyfikowane przez dr hab. inż. Radosław Kłosiński, prof. UZ (ostatnia modyfikacja: 16-04-2018 20:54)