SylabUZ

Wygeneruj PDF dla tej strony

Systemy pomiarowe stosowane w wiertnictwie - opis przedmiotu

Informacje ogólne
Nazwa przedmiotu Systemy pomiarowe stosowane w wiertnictwie
Kod przedmiotu 06.1-WM-MiBM-MiUW-P-09_15
Wydział Wydział Mechaniczny
Kierunek Mechanika i budowa maszyn
Profil ogólnoakademicki
Rodzaj studiów pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
Semestr rozpoczęcia semestr zimowy 2017/2018
Informacje o przedmiocie
Semestr 7
Liczba punktów ECTS do zdobycia 2
Typ przedmiotu obowiązkowy
Język nauczania polski
Sylabus opracował
  • dr inż. Mirosław Żygadło
Formy zajęć
Forma zajęć Liczba godzin w semestrze (stacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (stacjonarne) Liczba godzin w semestrze (niestacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (niestacjonarne) Forma zaliczenia
Wykład 15 1 - - Zaliczenie na ocenę
Laboratorium 15 1 - - Zaliczenie na ocenę

Cel przedmiotu

Celem przedmiotu jest zapoznanie studentów z:

-  podstawowymi zagadnieniami z teorii pomiarów oraz z systemem miar,

-  metodami i przyrządami do pomiarów wybranych wielkości fizycznych,

-  budową i parametrami przetworników pomiarowych podstawowych wielkości nieelektrycznych,

- zasadami organizacji systemów pomiarowych oraz z budową, zasadą działania i właściwościami elementów systemów pomiarowych, 

- zagadnieniami związanymi ze stosowaniem systemów pomiarowych na wiertniach.

Wymagania wstępne

Kurs fizyki, Podstawy elektrotechniki i elektroniki, Podstawy informatyki.

Zakres tematyczny

Wykład:

Podstawowe pojęcia z zakresu metrologii. Skale pomiarowe i jednostki miary. Wybrane wzorce wielkości. Metody pomiaru i ich dokładności. Charakterystyka przyrządów pomiarowych. Struktura metrologiczna przyrządu pomiarowego.

 Wprowadzenie do pomiarów wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi. Klasyfikacja i podstawowe obszary zastosowań czujników. Układy kondycjonowania sygnałów wyjściowych czujników pomiarowych. Ogólna charakterystyka parametrycznych (rezystancyjnych i reaktancyjnych) oraz generacyjnych czujników pomiarowych. Układy kondycjonowania współpracujące z

czujnikami parametrycznymi i generacyjnymi.  Pomiary wielkości opisujących ruch. Czujniki przemieszczeń liniowych i kątowych. Czujniki przyspieszeń i prędkości w ruchu liniowym i obrotowym.

Pomiary siły i ciśnienia. Tensometryczne, piezoelektryczne, magnetyczne czujniki siły. Membranowe czujniki ciśnienia.  Pomiar natężenia przepływu.

Komputerowe systemy pomiarowe. Ogólna charakterystyka systemów pomiarowych. Rodzaje i konfiguracje komputerowych systemów pomiarowych. Podstawowe bloki funkcjonalne komputerowych systemów pomiarowych. Specjalizowane systemy pomiarowe do zastosowań w warunkach szczególnych.

 

Laboratorium:

Wyznaczenie charakterystyki przetworników do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych.

Metody pomiarowe i czujniki do pomiaru wypełnienia zbiorników.

Badanie czujników do pomiaru sił i naprężeń.

Pomiar ciśnienia.

Metody pomiarowe  i czujniki do pomiaru temperatury.

Pomiar natężenia przepływu płynów.

Badanie substancji gazowych - pomiar strumienia masy i objętości.

Metody kształcenia

 

Wykład z wykorzystaniem środków audiowizualnych.

Laboratorium z wykorzystaniem stanowisk laboratoryjnych, analiza i dyskusja nad uzyskanymi wynikami

Efekty uczenia się i metody weryfikacji osiągania efektów uczenia się

Opis efektu Symbole efektów Metody weryfikacji Forma zajęć

Warunki zaliczenia

 

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego. 

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze sprawdzianów i zdanych sprawozdań z całości  ćwiczeń laboratoryjnych przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium. 

Literatura podstawowa

 

  1. Miłek M.: Metrologia elektryczna wielkości nieelektrycznych. Oficyna Wydawnicza Uniwersytetu Zielonogórskiego, Zielona Góra, 2006. 

  2.  Nawrocki W. Komputerowe systemy pomiarowe, WKiŁ, Warszawa, 2002.

  3.  Piotrowski J.: Podstawy miernictwa. WNT, Warszawa, 2002. 

  4. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007. 

  5. Zakrzewski J.: Czujniki i przetworniki pomiarowe. Podręcznik problemowy. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2004.

  6. Winiecki W.: Organizacja mikrokomputerowych systemów pomiarowych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997.

Literatura uzupełniająca

  1. Sydenham P. H. (red.): Podręcznik metrologii, tom 1 i 2. WKiŁ, Warszawa, 1988 (t.1), 1990 (t.2).

  2. Tietze U. Schenk Ch.: Układy półprzewodnikowe. WNT, Warszawa, Gliwice, 2004.

Uwagi


Zmodyfikowane przez dr inż. Mirosław Żygadło (ostatnia modyfikacja: 12-05-2017 09:55)