SylabUZ

Wygeneruj PDF dla tej strony

Podstawy metrologii - opis przedmiotu

Informacje ogólne
Nazwa przedmiotu Podstawy metrologii
Kod przedmiotu 06.2-WE-EP-PM
Wydział Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki
Kierunek Elektrotechnika
Profil ogólnoakademicki
Rodzaj studiów pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
Semestr rozpoczęcia semestr zimowy 2018/2019
Informacje o przedmiocie
Semestr 3
Liczba punktów ECTS do zdobycia 6
Typ przedmiotu obowiązkowy
Język nauczania polski
Sylabus opracował
  • prof. dr hab. inż. Ryszard Rybski
Formy zajęć
Forma zajęć Liczba godzin w semestrze (stacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (stacjonarne) Liczba godzin w semestrze (niestacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (niestacjonarne) Forma zaliczenia
Laboratorium 30 2 18 1,2 Zaliczenie na ocenę
Ćwiczenia 15 1 9 0,6 Zaliczenie na ocenę
Wykład 30 2 18 1,2 Zaliczenie na ocenę

Cel przedmiotu

  • zapoznanie studentów z podstawowymi zagadnieniami z teorii pomiarów oraz z systemem miar i wzorców
  • zapoznanie studentów z metodami i przyrządami do pomiarów wybranych wielkości elektrycznych oraz uświadomienie ograniczeń ich stosowania
  • ukształtowanie umiejętności w zakresie opracowywania wyników pomiarów oraz oceny błędów i niepewności pomiarów
  • zapoznanie z właściwościami metrologicznymi przyrządów pomiarowych
  • ukształtowanie umiejętności w zakresie projektowania elementów przyrządów pomiarowych

Wymagania wstępne

Analiza matematyczna

Zakres tematyczny

Podstawowe pojęcia z zakresu metrologii. Skale pomiarowe i jednostki miary. Wybrane wzorce wielkości. Metody pomiaru i ich dokładność. Metoda porównania bezpośredniego i pośredniego. Metoda przestawienia i podstawienia. Metoda różnicowa i zerowa. Metoda kompensacyjna i wychyleniowa.

Określanie niedokładności wyników pomiarów. Błędy systematyczne, przypadkowe i nadmierne. Błędy metody pomiarowej. Błędy podstawowe i dodatkowe przyrządów pomiarowych. Błędy dynamiczne. Obliczanie błędów granicznych w pomiarach bezpośrednich i pośrednich. Niepewność pomiaru. Niepewność typu A, typu B oraz typu A i B. Niepewność standardowa i rozszerzona. Określanie niepewności w pomiarze bezpośrednim i pośrednim.

Ogólne informacje o modelowaniu matematycznym zjawisk i obiektów. Identyfikacja parametryczna i nieparametryczna. Modele statyczne i dynamiczne. Modele punktowe i polowe. Pojęcia nieadekwatności i niedokładności. Określanie parametrów modelu metodą najmniejszych kwadratów. Tabelaryczno-graficzna reprezentacja modelu.

Sygnały pomiarowe. Klasyfikacja i modele matematyczne wybranych sygnałów pomiarowych. Charakterystyka przyrządów pomiarowych. Klasyfikacja narzędzi pomiarowych. Struktura metrologiczna przyrządu pomiarowego. Podstawowe właściwości metrologiczne przyrządów pomiarowych.

Metody kształcenia

wykład: wykład konwencjonalny

laboratorium: ćwiczenia laboratoryjne

ćwiczenia: ćwiczenia rachunkowe

Efekty uczenia się i metody weryfikacji osiągania efektów uczenia się

Opis efektu Symbole efektów Metody weryfikacji Forma zajęć

Warunki zaliczenia

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen z kolokwiów pisemnych lub ustnych przeprowadzonych co najmniej raz w semestrze.

Ćwiczenia - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen cząstkowych z zaliczeń, w formie zaproponowanej przez prowadzącego.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium.

Składowe oceny końcowej = wykład: 34% + laboratorium: 33% + ćwiczenia: 33%

Literatura podstawowa

  1. Chwaleba A, Poniński M., Siedlecki A.: Metrologia elektryczna, WNT, Warszawa, 2009.
  2. Lal-Jadziak J. (red): Laboratorium metrologii elektryczne cz.Ij, Wyd. Politechniki Zielonogórskiej, Zielona Góra, 1999.
  3. Skubis T.: Podstawy metrologicznej interpretacji wyników pomiarów, Wyd. Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2004.
  4. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007.

Literatura uzupełniająca

  1. Barzykowski J. (red): Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane, WNT, Warszawa, 2004.
  2. Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement, BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML, 1995.

Uwagi


Zmodyfikowane przez dr hab. inż. Radosław Kłosiński, prof. UZ (ostatnia modyfikacja: 25-04-2018 23:08)