SylabUZ

Wygeneruj PDF dla tej strony

Przetworniki pomiarowe - opis przedmiotu

Informacje ogólne
Nazwa przedmiotu Przetworniki pomiarowe
Kod przedmiotu 06.2-WE-EP-PP
Wydział Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki
Kierunek Elektrotechnika
Profil ogólnoakademicki
Rodzaj studiów pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
Semestr rozpoczęcia semestr zimowy 2018/2019
Informacje o przedmiocie
Semestr 5
Liczba punktów ECTS do zdobycia 5
Występuje w specjalnościach Cyfrowe Systemy Pomiarowe
Typ przedmiotu obowiązkowy
Język nauczania polski
Sylabus opracował
  • dr hab. inż. Wiesław Miczulski, prof. UZ
Formy zajęć
Forma zajęć Liczba godzin w semestrze (stacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (stacjonarne) Liczba godzin w semestrze (niestacjonarne) Liczba godzin w tygodniu (niestacjonarne) Forma zaliczenia
Wykład 30 2 18 1,2 Egzamin
Laboratorium 30 2 18 1,2 Zaliczenie na ocenę

Cel przedmiotu

  • zapoznanie studentów z parametrami przetworników pomiarowych oraz metodami opisu ich właściwości statycznych i dynamicznych
  • zapoznanie studentów z budową, zasadą działania i właściwościami bloków funkcjonalnych toru przetwarzania sygnałów pomiarowych oraz przetworników pomiarowych podstawowych wielkości nieelektrycznych
  • ukształtowanie umiejętności planowania i przeprowadzania eksperymentów w zakresie doświadczalnego wyznaczania charakterystyk elementów toru przetwarzania sygnałów pomiarowych

Wymagania wstępne

Podstawy elektrotechniki, Podstawy elektroniki, Metrologia

Zakres tematyczny

Ogólna charakterystyka przetworników i sygnałów pomiarowych. Podstawowe definicje klasyfikacja sygnałów i przetworników pomiarowych. Struktury przetworników pomiarowych.

Właściwości statyczne i dynamiczne przetworników pomiarowych. Definicje podstawowych parametrów statycznych. Metody opisu właściwości dynamicznych przetworników pomiarowych w dziedzinie czasu i częstotliwości. Modele idealnych transformacji dynamicznych. Modele i właściwości dynamiczne przetworników rzeczywistych.

Struktury przetworników. Analogowe bloki funkcyjne: stopnie wejściowe, przetworniki wartości bezwzględnej, układy logarytmujące i delogarytmujace, układy mnożące, układy RMS.

Układy kondycjonowania sygnałów wyjściowych czujników pomiarowych. Charakterystyka parametrycznych (rezystancyjnych i reaktancyjnych) oraz generacyjnych czujników pomiarowych. Układy kondycjonowania współpracujące z czujnikami parametrycznymi i generacyjnymi.

Przetwarzanie analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. Ogólna charakterystyka procesu przetwarzania A/C i C/A: próbkowanie, kwantowanie, kodowanie. Klasyfikacja i podstawowe funkcje oraz tendencje rozwojowe przetworników A/C i C/A. Budowa i właściwości wybranych rodzajów przetworników C/A. Przetworniki: z siecią rezystorów, z przełączanymi pojemnościami, sigma-delta; mnożące przetwornik C/A. Parametry statyczne i dynamiczne przetworników C/A. Budowa i właściwości wybranych przetworniki A/C. Przetworniki: całkujące, z przetwarzaniem częstotliwościowym, kompensacyjne, z bezpośrednim porównaniem, z próbkowaniem nadmiarowym (sigma-delta). Parametry statyczne i dynamiczne przetworników AC.

Przykłady realizacji współczesnych przetworników pomiarowych.

Metody kształcenia

wykład: wykład konwencjonalny, wykład problemowy, dyskusja

laboratorium: praca z dokumentem źródłowym, praca w grupach, ćwiczenia laboratoryjne

Efekty kształcenia i metody weryfikacji osiągania efektów kształcenia

Opis efektu Symbole efektów Metody weryfikacji Forma zajęć

Warunki zaliczenia

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen z egzaminu prowadzonego w formie pisemnej.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium.

Składowe oceny końcowej = wykład: 50% + laboratorium: 50%

Obciążenie pracą

Obciążenie pracą Studia stacjonarne
(w godz.)
Studia niestacjonarne
(w godz.)
Godziny kontaktowe (udział w zajęciach; konsultacjach; egzaminie, itp.) 70 65
Samodzielna praca studenta (przygotowanie do: zajęć, kolokwium, egzaminu; studiowanie literatury przygotowanie: pracy pisemnej, projektu, prezentacji, raportu, wystąpienia; itp.) 55 60
Łącznie 125 125
Punkty ECTS Studia stacjonarne Studia niestacjonarne
Zajęcia z udziałem nauczyciela akademickiego 3 3
Zajęcia bez udziału nauczyciela akademickiego 2 2
Łącznie 5 5

Literatura podstawowa

  1. Baranowski J., Kalinowski B., Nosal Z.: Układy elektroniczne cz.III. Układy i systemy cyfrowe. WNT, Warszawa, 1998.
  2. Gajda J., Szyper M.: Modelowanie i badania systemów pomiarowych. Wydane nakładem Wydziału Elektrotechniki, Automatyki, Informatyki i Elektroniki AGH, Kraków, 1998.
  3. Hagel R., Zakrzewski J.: Miernictwo dynamiczne. WNT, Warszawa, 1984.
  4. Jakubiec J., Roj J.: Pomiarowe przetwarzanie próbkujące. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2000.
  5. Kulka Z., Libura M., Nadachowski M.: Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. WKiŁ, Warszawa , 1987.
  6. Van de Plassche R.: Scalone przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. WKŁ, Warszawa, 1997.
  7. Zakrzewski J.: Czujniki i przetworniki pomiarowe. Podręcznik problemowy. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2004.

Literatura uzupełniająca

  1. Sydenham P. H. (red.): Podręcznik metrologii, tom 1 i 2. WKiŁ, Warszawa, 1988 (t.1), 1990 (t.2).
  2. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007.

Uwagi


Zmodyfikowane przez dr hab. inż. Radosław Kłosiński, prof. UZ (ostatnia modyfikacja: 05-04-2018 22:35)