1. SylabUZ
2. Wydział Nauk Inżynieryjno-Technicznych
3. semestr zimowy 2019/2020
4. Mechanika i budowa maszyn - pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
5. Systemy pomiarowe w przemyśle wydobywczym

Wygeneruj PDF dla tej strony

Systemy pomiarowe w przemyśle wydobywczym - opis przedmiotu

Cel przedmiotu

1. Zapoznanie studentów z podstawowymi zagadnieniami z teorii pomiarów oraz z systemem miar,
2. Zapoznanie studentów z metodami i przyrządami do pomiarów wybranych wielkości fizycznych,
3. Zapoznanie studentów z budową i parametrami przetworników pomiarowych podstawowych wielkości nieelektrycznych,
4. Zapoznanie studentów z zasadami organizacji systemów pomiarowych oraz z budową, zasadą działania i właściwościami elementów systemów pomiarowych, 
5. Zapoznanie studentów z zagadnieniami związanymi ze stosowaniem systemów pomiarowych na wiertniach.

Wymagania wstępne

Zapisz zmiany

Zakres tematyczny

Wykład:

Podstawowe pojęcia z zakresu metrologii. Skale pomiarowe i jednostki miary. Wybrane wzorce wielkości. Metody pomiaru i ich dokładności. Charakterystyka przyrządów pomiarowych. Struktura metrologiczna przyrządu pomiarowego.  Wprowadzenie do pomiarów wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi. Klasyfikacja i podstawowe obszary zastosowań czujników. Układy kondycjonowania sygnałów wyjściowych czujników pomiarowych. Ogólna charakterystyka parametrycznych (rezystancyjnych i reaktancyjnych) oraz generacyjnych czujników pomiarowych. Układy kondycjonowania współpracujące z czujnikami parametrycznymi i generacyjnymi.  Pomiary wielkości opisujących ruch. Czujniki przemieszczeń liniowych i kątowych. Czujniki przyspieszeń i prędkości w ruchu liniowym i obrotowym. Pomiary siły i ciśnienia. Tensometryczne, piezoelektryczne, magnetyczne czujniki siły. Membranowe czujniki ciśnienia.  Pomiar natężenia przepływu. Komputerowe systemy pomiarowe. Ogólna charakterystyka systemów pomiarowych. Rodzaje i konfiguracje komputerowych systemów pomiarowych. Podstawowe bloki funkcjonalne komputerowych systemów pomiarowych. Specjalizowane systemy pomiarowe do zastosowań w warunkach szczególnych.

Laboratorium:

• Wyznaczenie charakterystyki przetworników do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych.
• Metody pomiarowe i czujniki do pomiaru wypełnienia zbiorników.
• Badanie czujników do pomiaru sił i naprężeń.
• Pomiar ciśnienia.
• Metody pomiarowe  i czujniki do pomiaru temperatury.
• Pomiar natężenia przepływu płynów.
• Badanie substancji gazowych - pomiar strumienia masy i objętości.

Projekt:

• Projekt zastosowania przetworników do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych.
• Projekt systemu pomiarowego do pomiaru wypełnienia zbiorników.
• Projekt zastosowania czujników do pomiaru sił i naprężeń w układach mechanicznych.
• Projekt systemu pomiarowego ciśnienia w zbiornikach wodnych.
• Projekt systemu pomiarowego pomiaru temperatury w inteligentnych domach..
• Projekt pomiaru natężenia przepływu płynów w wybranych układach przepływowych.

 

Metody kształcenia

Wykład z wykorzystaniem środków audiowizualnych.

Laboratorium, projekt -  z wykorzystaniem stanowisk laboratoryjnych, analiza i dyskusja nad uzyskanymi wynikami

Efekty uczenia się i metody weryfikacji osiągania efektów uczenia się

Opis efektu	Symbole efektów	Metody weryfikacji	Forma zajęć

Warunki zaliczenia

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego. 

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen z całości  ćwiczeń laboratoryjnych przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium.  

Projekt - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen z projektów.

Literatura podstawowa

1. Miłek M.: Metrologia elektryczna wielkości nieelektrycznych. Oficyna Wydawnicza Uniwersytetu Zielonogórskiego, Zielona Góra, 2006. 
2.  Nawrocki W. Komputerowe systemy pomiarowe, WKiŁ, Warszawa, 2002.
3.  Piotrowski J.: Podstawy miernictwa. WNT, Warszawa, 2002. 
4. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007. 
5. Zakrzewski J.: Czujniki i przetworniki pomiarowe. Podręcznik problemowy. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2004.
6. Podobnie postępuj w przypadku kolejnych pozycji bibliograficznych literatury podstawowej wciskając [Enter]. Pamiętaj o kolejności: autor, tytuł, wydawnictwo, miejsce, rok wydania! Przed wciśnięciem [Enter] skasuj ukryty tekst: „Podobnie …”.

Literatura uzupełniająca

1. Sydenham P. H. (red.): Podręcznik metrologii, tom 1 i 2. WKiŁ, Warszawa, 1988 (t.1), 1990 (t.2).
2. Tietze U. Schenk Ch.: Układy półprzewodnikowe. WNT, Warszawa, Gliwice, 2004.

Uwagi

Zmodyfikowane przez dr inż. Daniel Dębowski (ostatnia modyfikacja: 17-04-2019 14:29)