SylabUZ
Course name | Electronic Measurement Instruments |
Course ID | 06.5-WE-EP-EPP-CSP |
Faculty | Faculty of Computer Science, Electrical Engineering and Automatics |
Field of study | Electrical Engineering |
Education profile | academic |
Level of studies | First-cycle studies leading to Engineer's degree |
Beginning semester | winter term 2024/2025 |
Semester | 6 |
ECTS credits to win | 5 |
Course type | obligatory |
Teaching language | polish |
Author of syllabus |
|
The class form | Hours per semester (full-time) | Hours per week (full-time) | Hours per semester (part-time) | Hours per week (part-time) | Form of assignment |
Lecture | 30 | 2 | 18 | 1,2 | Exam |
Laboratory | 30 | 2 | 18 | 1,2 | Credit with grade |
Podstawy elektrotechniki, Elektronika, Metrologia, Cyfrowe przetwarzanie sygnałów
Tendencje rozwojowe współczesnych przyrządów pomiarowych. Przyrządy mikroprocesorowe, mikroprocesorowe bloki pomiarowe, karty i moduły pomiarowe typu plug-in, przyrządy wirtualne, przyrządy na bazie systemów PXI.
Multimetry cyfrowe. Charakterystyka podstawowych bloków funkcjonalnych multimetrów cyfrowych. Ilustracja możliwości stosowania procedur programowej poprawy właściwości metrologicznych mikroprocesorowych przyrządów pomiarowych na przykładzie wybranych rozwiązań multimetrów cyfrowych. Wybrane problemu pomiaru wartości skutecznej napięć i prądów niesinusoidalnych za pomocą współczesnych multimetrów.
Zakłócenia elektryczne w pomiarach napięć i metody ich zwalczania. Rodzaje zakłóceń i ich źródła. Tłumienie zakłóceń szeregowych i równoległych. Zasady łączenia źródeł sygnałów pomiarowych z przyrządami pomiarowymi.
Pomiary napięcia w zakresie wielkich częstotliwości. Źródła błędów w pomiarach napięć w zakresie w.cz. Sondy pomiarowe. Pomiary woltomierzami z wejściem wysokoimpedancyjnym i pomiary z dopasowaniem impedancyjnym.
Przyrządy do wąskopasmowych pomiarów napięć przemiennych. Woltomierze selektywne. Woltomierze z detekcją synchroniczną. Woltomierze wektorowe.
Oscyloskopy cyfrowe. Klasyfikacja oscyloskopów elektronicznych. Budowa i zasada działania oscyloskopu cyfrowego. Charakterystyka trybów pracy. Charakterystyka porównawcza wybranych typów nowoczesnych oscyloskopów cyfrowych. Pomiary z zastosowaniem oscyloskopu cyfrowego.
Analizatory widma i mierniki współczynnika zniekształceń nieliniowych. Klasyfikacja, zasada działania, właściwości metrologiczne i funkcjonalne analizatorów widma. Cyfrowe analizatory widma: analizatory z filtrami cyfrowymi, analizatory oparte o szybką transformację Fouriera. Metody pomiaru współczynnika zniekształceń nieliniowych.
Przyrządy do pomiarów impedancji. Automatyczne mierniki RLC, analizatory impedancji, Q-metry, mostki transformatorowe.
Elektroniczne przyrządy do pomiaru mocy i energii elektrycznej. Specjalizowane scalone układy przeznaczone do pomiarów mocy i energii elektrycznej. Elektroniczne liczniki energii elektrycznej.
Źródła sygnałów pomiarowych. Metody generacji napięć sinusoidalnych stosowane w zakresie małych i wielkich częstotliwości. Generatory z cyfrową syntezą częstotliwości. Kalibratory napięć i prądów.
Wybrane problemy z zakresu precyzyjnych pomiarów wielkości elektrycznych. Metody i aparatura stosowane do realizacji wybranych jednostek miar wielkości elektrycznych: etalon napięcia oparty na zjawisku Josephsona, etalon natężenia prądu oparty na wykorzystaniu pompy elektronowej, etalon rezystancji oparty na kwantowym efekcie Halla, liczalny kondensator jako etalon pojemności. Pomiar i odtwarzanie zespolonego stosunku napięć z zastosowaniem algorytmów cyfrowego przetwarzania sygnałów. Kwantowe źródła napięcia sinusoidalnego.
wykład: wykład konwencjonalny,
laboratorium: praca z dokumentem źródłowym, praca w grupach, ćwiczenia laboratoryjne
Outcome description | Outcome symbols | Methods of verification | The class form |
Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z egzaminu prowadzonego w formie pisemnej.
Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium.
Składowe oceny końcowej = wykład: 50% + laboratorium: 50%
Modified by prof. dr hab. inż. Ryszard Rybski (last modification: 12-04-2024 17:45)