SylabUZ

Generate PDF for this page

Digital Systems Testing - course description

General information
Course name Digital Systems Testing
Course ID 06.0-WE-INFP-DSC
Faculty Faculty of Computer Science, Electrical Engineering and Automatics
Field of study Computer Science / Embedded Microsystems Engineering
Education profile academic
Level of studies First-cycle studies leading to Engineer's degree
Beginning semester winter term 2016/2017
Course information
Semester 6
ECTS credits to win 5
Course type optional
Teaching language polish
Author of syllabus
  • dr inż. Michał Doligalski
Classes forms
The class form Hours per semester (full-time) Hours per week (full-time) Hours per semester (part-time) Hours per week (part-time) Form of assignment
Lecture 15 1 9 0,6 Credit with grade
Laboratory 30 2 18 1,2 Credit with grade
Project 15 1 9 0,6 Credit with grade

Aim of the course

  • zapoznanie studentów z narzędziami i technikami weryfikacji funkcjonowania systemów cyfrowych
  • ukształtowanie zrozumienia konieczności zapewnienia jak najwyższej jakości systemów cyfrowych
  • ukształtowanie umiejętności projektowania i weryfikacji systemów cyfrowych, w szczególności wykorzystania oraz narzędzi pomiarowych na etapie weryfikacji układowej

Prerequisites

Układy cyfrowe, Języki modelowania systemów cyfrowych

Scope

Budowa i działanie narzędzi diagnostycznych: zapoznanie się z budową, zasadami działania oraz wykonywania pomiarów cyfrową aparaturą diagnostyczną obejmującą oscyloskopy cyfrowe, analizatory stanów logicznych, generatory arbitralne. Wykorzystanie oscyloskopu i generatora arbitralnego do generowania przebiegów cyfrowych i analogowych na podstawie przebiegów zarejestrowanych za pomocą oscyloskopu. Interfejsy aparatury pomiarowej (RS-232, RS-485, GPIB, USB). Badanie wybranych parametrów układów cyfrowych: Wykorzystanie oscyloskopu cyfrowego do pomiarów parametrów czasowych układów cyfrowych (TTL, CMOS, FPGA) obejmujących: czas propagacji, czas narastania, czas opadania, czas podtrzymania. Parametry elektryczne w tym: prądowe, napięciowe. Margines zakłóceń i odporność na zakłócenia. Warunki graniczne pracy układów cyfrowych. Diagnostyka sprzętowo - programowych systemów cyfrowych: Weryfikacja sygnałów na wyjściach układów cyfrowych z wykorzystaniem oscyloskopu cyfrowego. Analizator stanów logicznych w analizie systemów cyfrowych. Algorytmy wyzwalania w oparciu o zmiany bądź wartości sygnałów. Wykorzystanie wyników symulacji na etapie weryfikacji prototypu. Oprogramowanie diagnostyczne: Wykorzystanie specjalizowanego oprogramowania w procesie diagnostyki systemów cyfrowych (FPGAView, ChipScope Pro). Interfejs JTAG w analizie systemów cyfrowych. Wykorzystanie oprogramowania FPGAView oraz oscyloskopu cyfrowego i/lub analizatora stanów logicznych. Osadzanie modułów testowych wewnątrz systemów wbudowanych (ChipScope Pro). Wykorzystanie generatora sygnałów oraz oscyloskopu cyfrowego w badaniu systemów cyfrowych.

Teaching methods

wykład: wykład konwencjonalny

laboratorium: ćwiczenia laboratoryjne

projekt: metoda projektu

Learning outcomes and methods of theirs verification

Outcome description Outcome symbols Methods of verification The class form

Assignment conditions

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego realizowanego w formie pisemnej. Warunkiem przystąpienia do kolokwium jest pozytywna ocena z laboratorium.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium (80%) oraz aktywności na zajęciach (20%).

Projekt - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z projektu Składowe oceny końcowej = wykład: 40% + laboratorium: 30% + projekt: 30%

Recommended reading

  1. Pieńkos J., Turczyński J.: Układy scalone TTL w systemach cyfrowych. WKiŁ, Warszawa, 1986.
  2. Łuba T., Programowalne układy przetwarzania sygnałów i informacji. WKiŁ 2008.
  3. Kamieniecki A, Współczesny oscyloskop budowa i pomiary. BTC, Legionowo, 2009.
  4. Tumański S., Technika pomiarowa, WNT, 2007.

Further reading

  1. Rydzewski J., Pomiary oscyloskopowe. WNT, 2007.
  2. Lyons R. G., Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów, WKiŁ, Warszawa, 2006.
  3. Wiszniewski B., Bereza-Jarociński B.: Teoria i praktyka testowania programów. Wydawnictwo PWN, 2006.

Notes


Modified by prof. dr hab. inż. Krzysztof Patan (last modification: 22-09-2016 22:03)