1. SylabUZ
2. Wydział Informatyki, Elektrotechniki i Automatyki
3. semestr zimowy 2017/2018
4. Elektrotechnika - pierwszego stopnia z tyt. inżyniera
5. Inteligentne przetworniki pomiarowe

Wygeneruj PDF dla tej strony

Inteligentne przetworniki pomiarowe - opis przedmiotu

Cel przedmiotu

• zapoznanie studenta z właściwościami metrologicznymi inteligentnych przetworników pomiarowych (IPP) i metodami korekcji błędów,
• ukształtowanie praktycznej umiejętności w zakresie badania właściwości metrologicznych IPP.

Wymagania wstępne

Zapisz zmiany

Podstawy metrologii, Metrologia, Podstawy elektroniki i energoelektroniki, Komputerowe wspomaganie projektowania.

Zakres tematyczny

Ogólna charakterystyka inteligentnych przetworników pomiarowych. Określenie i klasyfikacja inteligentnych przetworników pomiarowych. Struktura, podstawowe bloki funkcyjne i algorytmy pracy. Podstawowe właściwości inteligentnych przetworników pomiarowych.

Właściwości metrologiczne wybranych bloków funkcyjnych przetworników. Właściwości metrologiczne: obwodów wejściowych przetworników wielkości elektrycznych, wybranych czujników pomiarowych i kondycjonerów, operatorów funkcyjnych (układy uśredniające, filtry analogowe, mnożniki, przetworniki RMS, przełączniki i multipleksery analogowe, układy próbkująco-pamiętające i inne).

Metody korekcji błędów. Czynniki wpływające na wartości błędów pomiaru. Metody korekcji błędów zera, czułości i nieliniowości. Metody adaptacji przetworników pomiarowych do parametrów przetwarzanych sygnałów.

Proces odtwarzania. Klasyczne (programowe) i neuronowe realizacje procesu odtwarzania. Wybrane przykłady czujników i przetworników inteligentnych.

Metody kształcenia

wykład: wykład konwencjonalny, dyskusja, konsultacje,

laboratorium: ćwiczenia laboratoryjne, praca w grupach.

Efekty uczenia się i metody weryfikacji osiągania efektów uczenia się

Opis efektu	Symbole efektów	Metody weryfikacji	Forma zajęć

Warunki zaliczenia

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z egzaminu.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen cząstkowych z zadań, wykonywanych w ramach laboratorium.

Składowe oceny końcowej = wykład: 50% + laboratorium: 50%.

Literatura podstawowa

1. Baranowski J., Czajkowski G., Układy elektroniczne cz.II. Układy analogowe nieliniowe i impulsowe, WNT, Warszawa, 1998.
2. Barzykowski J. (red.), Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane, WNT, Warszawa, 2004.
3. Bolikowski J. (red.), Podstawy projektowania inteligentnych przetworników pomiarowych wielkości elektrycznych, Monografia Nr 68, Wyd. WSI, Zielona Góra, 1993.
4. Gajda J., Szyper M., Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych, Wyd. Firma Jartek s.c.. Kraków, 1998.
5. Jakubiec J., Roj J., Pomiarowe przetwarzanie próbkujące, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2000.

Literatura uzupełniająca

1. Z. Kulka, A. Libura, M. Nadachowski: Przetworniki a/c i c/a. WKiŁ, Warszawa 1987.
2. M. Nadachowski, Z. Kulka: Analogowe układy scalone. WKiŁ, Warszawa 1979.
3. Rudy van de Plassche: Scalone przetworniki a/c i c/a. WKiŁ, Warszawa 1997.

Uwagi

Zmodyfikowane przez dr hab. inż. Radosław Kłosiński, prof. UZ (ostatnia modyfikacja: 02-05-2017 20:14)