SylabUZ
Course name | Komputerowa technika pomiarowa |
Course ID | 06.0-WE-AiRP-KTP |
Faculty | Faculty of Computer Science, Electrical Engineering and Automatics |
Field of study | Automatic Control and Robotics |
Education profile | academic |
Level of studies | First-cycle studies leading to Engineer's degree |
Beginning semester | winter term 2021/2022 |
Semester | 6 |
ECTS credits to win | 5 |
Course type | optional |
Teaching language | polish |
Author of syllabus |
|
The class form | Hours per semester (full-time) | Hours per week (full-time) | Hours per semester (part-time) | Hours per week (part-time) | Form of assignment |
Lecture | 30 | 2 | 18 | 1,2 | Exam |
Laboratory | 30 | 2 | 18 | 1,2 | Credit with grade |
Metrologia, Sensory w Systemach Sterowania
Systemy pomiarowe. Klasyfikacja, podstawowe zadania i konfiguracje systemów pomiarowych. Przykłady elementarnych zestawów systemu pomiarowego. Obwody wejściowe systemów pomiarowych. Układy kondycjonowania i zbierania danych.
Współpraca sprzętu pomiarowego z komputerem. Magistrale komputerowe do współpracy z aparaturą pomiarową. Interfejsy stosowane w technice pomiarowej. Interfejsy szeregowe RS-232C, RS-485, USB. Interfejs równoległy GPIB. Interfejsy modułowe VXI i PXI. Interfejs Hart i standard 4…20mA.
Układy akwizycji danych pomiarowych DAQ. Bloki funkcjonalne systemów DAQ. Przykłady zastosowania systemów DAQ.
Oprogramowanie w systemach pomiarowych. Metody programowania systemów pomiarowych. Standard SCPI. Wirtualne przyrządy pomiarowe. Kategorie przyrządów wirtualnych. Środowiska programistyczne do oprogramowania systemów pomiarowych: LabView, LabWindows.
Programowanie w środowisku LabView. Podstawy programowania w środowisku LabView. Obsługa przyrządów pomiarowych w LabView.
Podstawy projektowania systemów pomiarowych. Przykłady systemów testowania i oprogramowanie systemów testowania
wykład: dyskusja, konsultacje, wykład konwencjonalny
laboratorium: dyskusja, konsultacje, praca w grupach, metoda projektu
Outcome description | Outcome symbols | Methods of verification | The class form |
Wykład – warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z egzaminu pisemnego.
Laboratorium – warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium
1. Winiecki W.: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 1997.
2. Mielczarek W.: Urządzenia pomiarowe i systemy kompatybilne ze standardem SCPI. Helion, Gliwice 1999.
3. Lesiak P., Świsulski D.: Komputerowa Technika Pomiarowa w przykładach. Agenda Wydawnicza PAK, Warszawa, 2002
4. Nawrocki W. : Komputerowe Systemy pomiarowe. WKiŁ, Warszawa, 2002.
5. Rak R.,J.: Wirtualny przyrząd pomiarowy - realne narzędzie współczesnej metrologii. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2003.
6. Chruściel M.: LabView w praktyce. Wydawnictwo BTC, Legionowo, 2008.
7. Nawrocki W.: Rozproszone systemy pomiarowe. WKŁ, Warszawa 2006.
8. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007.
9. Hejn K., Leśniewski A., : Systemy pomiarowe. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2017.
1. Winiecki W., Nowak J., Stanik S.: Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo - kontrolnych, Mikom, Warszawa, 2001.
Modified by dr inż. Leszek Furmankiewicz (last modification: 26-04-2021 21:30)