SylabUZ
Course name | Data Mining |
Course ID | 11.3-WE-AEIT-HurtDanych |
Faculty | Faculty of Computer Science, Electrical Engineering and Automatics |
Field of study | Automatic control engineering and robotics, Electrotechnology, Computer science |
Education profile | academic |
Level of studies | PhD studies |
Beginning semester | winter term 2016/2017 |
Semester | 4 |
ECTS credits to win | 2 |
Course type | optional |
Teaching language | polish |
Author of syllabus |
|
The class form | Hours per semester (full-time) | Hours per week (full-time) | Hours per semester (part-time) | Hours per week (part-time) | Form of assignment |
Lecture | 15 | 1 | - | - | Exam |
- zapoznanie doktorantów z architekturami i budową hurtowni danych,
- zapoznanie doktorantów z wielowymiarowymi modelami danych,
- zapoznanie doktorantów z wybranymi metodami eksploracji danych w procesie pozyskiwania wiedzy z hurtowni danych.
Podstawowa wiedza z zakresu statystycznej analizy danych, baz danych i systemów wspomagania decyzji.
Wprowadzenie. Terminologia związana z eksploracją wiedzy. Metodologia zgłębiania danych. Analiza problemu.
Architektury i infrastruktury hurtowni danych. Ogólna architektura hurtowni danych. Architektura wydziałowa i tematyczna hurtowni danych. Architektura federacyjna i warstwowa hurtowni danych. Infrastruktury techniczne i ich relacje z architekturą hurtowni danych.
Cykl życia wspomagania podejmowania decyzji. Charakterystyka etapów cyklu życia wspomagania podejmowania decyzji.
Wielowymiarowe modele danych i agregacje. System OLAP. Modele ROLAP, MOLAP. Modele logiczne i pojęciowe informacji wielowymiarowej. Wielopoziomowość wymiaru.
Wybrane metody eksploracji. Formy reprezentacji odkrytych schematów. Odkrywanie asocjacji. Grupowanie. Odkrywanie sekwencji. Odkrywanie klasyfikacji. Odkrywanie podobieństw w przebiegach czasowych. Przykładowe zastosowania metod eksploracji.
Wykład konwencjonalny
Outcome description | Outcome symbols | Methods of verification | The class form |
Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z egzaminu.
Modified by dr hab. inż. Wiesław Miczulski, prof. UZ (last modification: 23-09-2016 12:10)