1. SylabUZ
2. Faculty of Computer Science, Electrical Engineering and Automatics
3. winter term 2017/2018
4. Electrical Engineering - First-cycle studies leading to Engineer's degree
5. Intelligent Measurement Transducers

Generate PDF for this page

Intelligent Measurement Transducers - course description

Aim of the course

• zapoznanie studenta z właściwościami metrologicznymi inteligentnych przetworników pomiarowych (IPP) i metodami korekcji błędów,
• ukształtowanie praktycznej umiejętności w zakresie badania właściwości metrologicznych IPP.

Prerequisites

Save changes

Podstawy metrologii, Metrologia, Podstawy elektroniki i energoelektroniki, Komputerowe wspomaganie projektowania.

Scope

Ogólna charakterystyka inteligentnych przetworników pomiarowych. Określenie i klasyfikacja inteligentnych przetworników pomiarowych. Struktura, podstawowe bloki funkcyjne i algorytmy pracy. Podstawowe właściwości inteligentnych przetworników pomiarowych.

Właściwości metrologiczne wybranych bloków funkcyjnych przetworników. Właściwości metrologiczne: obwodów wejściowych przetworników wielkości elektrycznych, wybranych czujników pomiarowych i kondycjonerów, operatorów funkcyjnych (układy uśredniające, filtry analogowe, mnożniki, przetworniki RMS, przełączniki i multipleksery analogowe, układy próbkująco-pamiętające i inne).

Metody korekcji błędów. Czynniki wpływające na wartości błędów pomiaru. Metody korekcji błędów zera, czułości i nieliniowości. Metody adaptacji przetworników pomiarowych do parametrów przetwarzanych sygnałów.

Proces odtwarzania. Klasyczne (programowe) i neuronowe realizacje procesu odtwarzania. Wybrane przykłady czujników i przetworników inteligentnych.

Teaching methods

wykład: wykład konwencjonalny, dyskusja, konsultacje,

laboratorium: ćwiczenia laboratoryjne, praca w grupach.

Learning outcomes and methods of theirs verification

Outcome description	Outcome symbols	Methods of verification	The class form

Assignment conditions

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z egzaminu.

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen cząstkowych z zadań, wykonywanych w ramach laboratorium.

Składowe oceny końcowej = wykład: 50% + laboratorium: 50%.

Recommended reading

1. Baranowski J., Czajkowski G., Układy elektroniczne cz.II. Układy analogowe nieliniowe i impulsowe, WNT, Warszawa, 1998.
2. Barzykowski J. (red.), Współczesna metrologia. Zagadnienia wybrane, WNT, Warszawa, 2004.
3. Bolikowski J. (red.), Podstawy projektowania inteligentnych przetworników pomiarowych wielkości elektrycznych, Monografia Nr 68, Wyd. WSI, Zielona Góra, 1993.
4. Gajda J., Szyper M., Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych, Wyd. Firma Jartek s.c.. Kraków, 1998.
5. Jakubiec J., Roj J., Pomiarowe przetwarzanie próbkujące, Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2000.

Further reading

1. Z. Kulka, A. Libura, M. Nadachowski: Przetworniki a/c i c/a. WKiŁ, Warszawa 1987.
2. M. Nadachowski, Z. Kulka: Analogowe układy scalone. WKiŁ, Warszawa 1979.
3. Rudy van de Plassche: Scalone przetworniki a/c i c/a. WKiŁ, Warszawa 1997.

Notes

Modified by dr hab. inż. Radosław Kłosiński, prof. UZ (last modification: 02-05-2017 20:15)