SylabUZ
Nazwa przedmiotu | Komputerowa technika pomiarowa |
Kod przedmiotu | 06.0-WE-AiRP-KTP |
Wydział | Wydział Nauk Inżynieryjno-Technicznych |
Kierunek | Automatyka i robotyka |
Profil | ogólnoakademicki |
Rodzaj studiów | pierwszego stopnia z tyt. inżyniera |
Semestr rozpoczęcia | semestr zimowy 2021/2022 |
Semestr | 6 |
Liczba punktów ECTS do zdobycia | 5 |
Typ przedmiotu | obieralny |
Język nauczania | polski |
Sylabus opracował |
|
Forma zajęć | Liczba godzin w semestrze (stacjonarne) | Liczba godzin w tygodniu (stacjonarne) | Liczba godzin w semestrze (niestacjonarne) | Liczba godzin w tygodniu (niestacjonarne) | Forma zaliczenia |
Wykład | 30 | 2 | 18 | 1,2 | Egzamin |
Laboratorium | 30 | 2 | 18 | 1,2 | Zaliczenie na ocenę |
Metrologia, Sensory w Systemach Sterowania
Systemy pomiarowe. Klasyfikacja, podstawowe zadania i konfiguracje systemów pomiarowych. Przykłady elementarnych zestawów systemu pomiarowego. Obwody wejściowe systemów pomiarowych. Układy kondycjonowania i zbierania danych.
Współpraca sprzętu pomiarowego z komputerem. Magistrale komputerowe do współpracy z aparaturą pomiarową. Interfejsy stosowane w technice pomiarowej. Interfejsy szeregowe RS-232C, RS-485, USB. Interfejs równoległy GPIB. Interfejsy modułowe VXI i PXI. Interfejs Hart i standard 4…20mA.
Układy akwizycji danych pomiarowych DAQ. Bloki funkcjonalne systemów DAQ. Przykłady zastosowania systemów DAQ.
Oprogramowanie w systemach pomiarowych. Metody programowania systemów pomiarowych. Standard SCPI. Wirtualne przyrządy pomiarowe. Kategorie przyrządów wirtualnych. Środowiska programistyczne do oprogramowania systemów pomiarowych: LabView, LabWindows.
Programowanie w środowisku LabView. Podstawy programowania w środowisku LabView. Obsługa przyrządów pomiarowych w LabView.
Podstawy projektowania systemów pomiarowych. Przykłady systemów testowania i oprogramowanie systemów testowania
wykład: dyskusja, konsultacje, wykład konwencjonalny
laboratorium: dyskusja, konsultacje, praca w grupach, metoda projektu
Opis efektu | Symbole efektów | Metody weryfikacji | Forma zajęć |
Wykład – warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z egzaminu pisemnego.
Laboratorium – warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze wszystkich ćwiczeń laboratoryjnych, przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium
1. Winiecki W.: Organizacja komputerowych systemów pomiarowych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 1997.
2. Mielczarek W.: Urządzenia pomiarowe i systemy kompatybilne ze standardem SCPI. Helion, Gliwice 1999.
3. Lesiak P., Świsulski D.: Komputerowa Technika Pomiarowa w przykładach. Agenda Wydawnicza PAK, Warszawa, 2002
4. Nawrocki W. : Komputerowe Systemy pomiarowe. WKiŁ, Warszawa, 2002.
5. Rak R.,J.: Wirtualny przyrząd pomiarowy - realne narzędzie współczesnej metrologii. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2003.
6. Chruściel M.: LabView w praktyce. Wydawnictwo BTC, Legionowo, 2008.
7. Nawrocki W.: Rozproszone systemy pomiarowe. WKŁ, Warszawa 2006.
8. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007.
9. Hejn K., Leśniewski A., : Systemy pomiarowe. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2017.
1. Winiecki W., Nowak J., Stanik S.: Graficzne zintegrowane środowiska programowe do projektowania komputerowych systemów pomiarowo - kontrolnych, Mikom, Warszawa, 2001.
Zmodyfikowane przez dr inż. Leszek Furmankiewicz (ostatnia modyfikacja: 26-04-2021 21:30)