1. SylabUZ
2. Faculty of Mechanical Engineering
3. winter term 2022/2023
4. Mechanical Engineering - Second-cycle studies leading to MSc degree
5. Przemysłowe systemy pomiarowe i przetworniki pomiarowe w mechatronice

Generate PDF for this page

Przemysłowe systemy pomiarowe i przetworniki pomiarowe w mechatronice - course description

Aim of the course

Celem przedmiotu jest przedstawienie systemów pomiarowych stosowanych w nowoczesnych systemach produkcyjnych. Celem jest także prezentacja elementów wykonawczych systemów informacyjno-pomiarowych wykorzystywanych w automatycznych systemach. Celem wykładu jest także przedstawienie rozszerzonych funkcji wirtualnych przyrządów pomiarowych służących kontroli przebiegu procesu jak i ich wizualizacji oraz modelowania.

Prerequisites

Save changes

Podstawy automatyki, Podstawy informatyki, Podstawy programowania w językach wyższego rzędu. Wiadomości teoretyczne z kursu fizyki, inżynierii procesowej.

Scope

Treść wykładowa

Tradycyjny system pomiarowy. Karty zbierania danych (DAQ). Wirtualne przyrządy pomiarowe. Podstawy programowania aplikacji w środowisku graficznym LabView. Podstawowe definicje związane z technikami pomiarowymi, podział metod pomiarowych i ogólne ich omówienie. Rola elektroniki i komputerów w rozwoju technik pomiarowych. Stosowalność i ograniczenia różnych metod. Wzorce i standardy. Techniki ultradźwiękowe i laserowe.

Treść projektowa

W zakres tematyczny zajęć projektowych wchodzą: zagadnienia związane z projektowaniem wirtualnych przyrządów pomiarowych. Tematyka zajęć związana jest z opracowaniem koncepcji budowy wirtualnych przyrządów pomiarowych do: pomiaru wskaźników jakości regulacji na przykładzie obiektu cieplnego, modelowania podstawowych układów logicznych, układów kombinacyjnych, sekwencyjnych. W zakres tematyczny wchodzi ponadto zagadnienia związane z projektowaniem wirtualnych przyrządów pomiarowych w złożonych systemach wizualizacyjnych wybranych procesów produkcyjnych (tematy ustalane indywidualnie ze studentami).

Teaching methods

Wykłady z wykorzystaniem środków audiowizualnych. Praca z książkami, standardami i indywidualna praca podczas opracowania zagadnień.

Learning outcomes and methods of theirs verification

Outcome description	Outcome symbols	Methods of verification	The class form

Assignment conditions

Warunkiem zaliczenia przedmiotu jest zaliczenie wszystkich jego form. Ocena z wykładu jest określana na podstawie końcowego egzaminu pisemnego (praca pisemna) oraz oceny za opracowanie/zaprezentowanie pracy kontrolnej. Ocena z projektu określana jest na podstawie opracowanego projektu i jego prezentacji. Ocena końcowa na zaliczenie przedmiotu jest średnią ważoną z ocen za poszczególne formy zajęć, przy czym wagi wynoszą odpowiednio: dla egzaminu z wykładu (0.6), dla projektu (0.4).

Recommended reading

1. Czajewski J.: “Podstawy metrologii elektrycznej”, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 2003.
2. Gajda J., Szyper M.: „Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych”, Wydział EAIiE, Akademia Górniczo-Hutnicza, Kraków.
3. Nawrocki W.: “Komputerowe systemy pomiarowe”, WKiŁ, Warszawa, 2002.
4. Sayood K.: „Kompresja danych – wprowadzenie”, Wydawnictwo RM, Warszawa, 2002.
5. Stabrowski M.M.: “Cyfrowe przyrządy pomiarowe”. PWN, Warszawa 2002
6. Winiecki W.: „Organizacja mikrokomputerowych systemów pomiarowych”, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997.
7. Winiecki W., Nowak J., Stanik S.: „Graficzne zintegrowane środowiska programowe - do projektowania systemów pomiarowo-kontrolnych”, MIKOM, Warszawa, 2001.  

Further reading

1. Dusza Jacek, Godtat Grażyna, Leśniewski Antoni :Podstawy miernictwa”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1998.
2. Świsulski Dariusz „Komputerowa technika pomiarowa”. Agenda Wydawnicza PAK-u , Warszawa 2005 r.

Notes

Uwaga do godzin i punktów ECTS

Modified by dr inż. Daniel Dębowski (last modification: 22-04-2022 13:15)