SylabUZ

Generate PDF for this page

Measurement Systems in Drilling - course description

General information
Course name Measurement Systems in Drilling
Course ID 06.1-WM-MiBM-MiUW-P-09_15
Faculty Faculty of Mechanical Engineering
Field of study Mechanical Engineering / Drilling Machinery and Tools
Education profile academic
Level of studies First-cycle studies leading to Engineer's degree
Beginning semester winter term 2016/2017
Course information
Semester 7
ECTS credits to win 2
Course type obligatory
Teaching language polish
Author of syllabus
  • dr inż. Mirosław Żygadło
Classes forms
The class form Hours per semester (full-time) Hours per week (full-time) Hours per semester (part-time) Hours per week (part-time) Form of assignment
Lecture 15 1 - - Credit with grade
Laboratory 15 1 - - Credit with grade

Aim of the course

Celem przedmiotu jest zapoznanie studentów z:

-  podstawowymi zagadnieniami z teorii pomiarów oraz z systemem miar,

-  metodami i przyrządami do pomiarów wybranych wielkości fizycznych,

-  budową i parametrami przetworników pomiarowych podstawowych wielkości nieelektrycznych,

- zasadami organizacji systemów pomiarowych oraz z budową, zasadą działania i właściwościami elementów systemów pomiarowych, 

- zagadnieniami związanymi ze stosowaniem systemów pomiarowych na wiertniach.

Prerequisites

Kurs fizyki, Podstawy elektrotechniki i elektroniki, Podstawy informatyki.

Scope

Wykład:

Podstawowe pojęcia z zakresu metrologii. Skale pomiarowe i jednostki miary. Wybrane wzorce wielkości. Metody pomiaru i ich dokładności. Charakterystyka przyrządów pomiarowych. Struktura metrologiczna przyrządu pomiarowego.

 Wprowadzenie do pomiarów wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi. Klasyfikacja i podstawowe obszary zastosowań czujników. Układy kondycjonowania sygnałów wyjściowych czujników pomiarowych. Ogólna charakterystyka parametrycznych (rezystancyjnych i reaktancyjnych) oraz generacyjnych czujników pomiarowych. Układy kondycjonowania współpracujące z

czujnikami parametrycznymi i generacyjnymi.  Pomiary wielkości opisujących ruch. Czujniki przemieszczeń liniowych i kątowych. Czujniki przyspieszeń i prędkości w ruchu liniowym i obrotowym.

Pomiary siły i ciśnienia. Tensometryczne, piezoelektryczne, magnetyczne czujniki siły. Membranowe czujniki ciśnienia.  Pomiar natężenia przepływu.

Komputerowe systemy pomiarowe. Ogólna charakterystyka systemów pomiarowych. Rodzaje i konfiguracje komputerowych systemów pomiarowych. Podstawowe bloki funkcjonalne komputerowych systemów pomiarowych. Specjalizowane systemy pomiarowe do zastosowań w warunkach szczególnych.

 

Laboratorium:

Wyznaczenie charakterystyki przetworników do pomiaru przemieszczeń liniowych i kątowych.

Metody pomiarowe i czujniki do pomiaru wypełnienia zbiorników.

Badanie czujników do pomiaru sił i naprężeń.

Pomiar ciśnienia.

Metody pomiarowe  i czujniki do pomiaru temperatury.

Pomiar natężenia przepływu płynów.

Badanie substancji gazowych - pomiar strumienia masy i objętości.

Teaching methods

 

Wykład z wykorzystaniem środków audiowizualnych.

Laboratorium z wykorzystaniem stanowisk laboratoryjnych, analiza i dyskusja nad uzyskanymi wynikami

Learning outcomes and methods of theirs verification

Outcome description Outcome symbols Methods of verification The class form

Assignment conditions

 

Wykład - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnej oceny z kolokwium zaliczeniowego. 

Laboratorium - warunkiem zaliczenia jest uzyskanie pozytywnych ocen ze sprawdzianów i zdanych sprawozdań z całości  ćwiczeń laboratoryjnych przewidzianych do realizacji w ramach programu laboratorium. 

Recommended reading

 

  1. Miłek M.: Metrologia elektryczna wielkości nieelektrycznych. Oficyna Wydawnicza Uniwersytetu Zielonogórskiego, Zielona Góra, 2006. 

  2.  Nawrocki W. Komputerowe systemy pomiarowe, WKiŁ, Warszawa, 2002.

  3.  Piotrowski J.: Podstawy miernictwa. WNT, Warszawa, 2002. 

  4. Tumański S.: Technika pomiarowa. WNT, Warszawa, 2007. 

  5. Zakrzewski J.: Czujniki i przetworniki pomiarowe. Podręcznik problemowy. Wydawnictwo Politechniki Śląskiej, Gliwice, 2004.

  6. Winiecki W.: Organizacja mikrokomputerowych systemów pomiarowych. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1997.

Further reading

  1. Sydenham P. H. (red.): Podręcznik metrologii, tom 1 i 2. WKiŁ, Warszawa, 1988 (t.1), 1990 (t.2).

  2. Tietze U. Schenk Ch.: Układy półprzewodnikowe. WNT, Warszawa, Gliwice, 2004.

Notes


Modified by dr inż. Mirosław Żygadło (last modification: 24-09-2016 12:12)